Naučne publikacije akademskog osoblja

Ukoliko želite, kartone naučnog osoblja ovog fakulteta možete da pogledate i na sajtu Elektronskog fakulteta.

Datum kreiranja: 27.01.2014.

Zoran D. Prijić

Dodatne informacije

  • Lični podaci

  • Datum rođenja: 13.01.1963.
  • Mesto rođenja: Niš
  • Obrazovanje

  • Fakultet: Elektronski
  • Odsek / Grupa / Smer: Mikroelektronika
  • Godina diplomiranja: 1987.
  • Spisak publikacija

  • Monografije i poglavlja u monografijama:

    С. Ристић, А. Пријић, З. Пријић, Транспортни процеси у јако допираном силицијуму, Универзитет у Нишу, Електронски факултет, 2001.


    N. Stojadinović, D. Danković, S. Đorić-Veljković, V. Davidović, A. Prijić, S. Golubović, Z. Prijić. „Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS Transistors“, in „Bias Temperature Instability for Devices and Circuits“, ed. by T. Grasser, pp. 533-559, Springer, 2014., ISBN 978-1-4614-7908-6.


    V. Paunović, Z. Prijić, D. Antić, "Ferroelectric and Piezoelectric Nanomaterials—Basic Properties, Characterization and Applications", in "Commercialization of Nanotechnologies–A Case Study Approach", ed. by D. Brabazon et al., pp. 117-151, Springer, 2017., ISBN 978-3-319-56978-9

  • Knjige i udžbenici:

    З. Пријић, А. Пријић, Увод  у полупроводничке компоненте и њихову примену, Уџбеник,  Електронски факултет Ниш, 2014., ISBN 978-86-6125-107-8.


    С. Ристић, З. Пријић, Д. Пантић, Електронске компоненте, Збирка задатака, Електронски факултет Ниш, 1995.

  • Radovi u časopisima sa IMPACT faktorom:

    Lj. Vračar, M. Stojanović, A. Stanimirović, Z. Prijić, "Influence of Encryption Algorithms on Power Consumption in Energy Harvesting Systems", Journal of Sensors, Vol. 2019, Article ID 8520562, 2019.


    N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, S. Golubović, S. Stanković, A. Prijić, Z. Prijić, I. Manić, D. Danković, "NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistors", Microelectronics Reliability, Vol. 88-90, pp. 135-141, 2018.


    V. Davidović, D. Danković, A. Ilić, I. Manić, S. Golubović, S. Djorić-Veljković, Z. Prijić, A. Prijić, N. Stojadinović, "Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors", Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 57, 044101, pp. 1-10, 2018.


    D. Danković, I. Manić, A. Prijić, V. Davidović, Z. Prijić, S. Golubović, S. Djorić-Veljković, A. Paskaleva, D. Spassov, N. Stojadinović, "A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs", Microelectronics Reliability, Vol. 82, pp. 28-36, 2018.


    D. Milić, A. Prijić, Lj. Vračar, Z. Prijić, "Characterization of commercial thermoelectric modules for application in energy harvesting wireless sensor nodes", Applied Thermal Engineering, Vol. 121, pp. 74-82, 2017.


    D. Danković, I. Manić, V. Davidović, A. Prijić, M. Marjanović, A. Ilić, Z. Prijić, N. Stojadinović, "On the Recoverable and Permanent Components of NBTI in P-Channel Power VDMOSFETs", IEEE Trans. Device Mater. Rel., Vol. 16, pp. 522-531, 2016.


    V. Davidović, D. Danković, A. Ilić, I. Manić, S. Golubović, S. Đorić-Veljković, Z. Prijić, N. Stojadinović, "NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors," IEEE Trans. Nuclear Science, Vol. 63, pp. 1268-1275, 2016.


    Lj. Vračar, A. Prijić, D. Nešić, S. Dević, Z. Prijić, "Photovoltaic Energy Harvesting Wireless Sensor Node for Telemetry Applications Optimized for Low Illumination Levels", MDPI Electronics, Vol. 5(2), 26, 2016.


    A. Prijić, Lj. Vračar, Z. Pavlović, Lj. Kostić, Z. Prijić, "The Effect of Flat Panel Reflectors on Photovoltaic Energy Harvesting in Wireless Sensor Nodes under Low Illumination Levels," IEEE Sensors Journal, Vol. 15, No. 12, pp. 7105-7111, 2015. (doi:10.1109/JSEN.2015.2470548)


    D. Danković, N. Stojadinović, Z. Prijić, I. Manić, V. Davidović, A. Prijić, S. Đorić-Veljković, S. Golubović, "Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET", Chin. Phys. B, vol. 24, No. 10 (2015) 106601.


    D. Danković, I. Manić, A. Prijić, S. Djorić-Veljković, V. Davidović, N. Stojadinović, Z. Prijić and S. Golubović, "Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradation", Semicond. Sci. Technol., Vol. 30, No. 10, 2015, 105009, doi:10.1088/0268-1242/30/10/105009


    A. Prijić, Lj. Vračar, D. Vučković, D. Milić, Z. Prijić, "Thermal Energy Harvesting Wireless Sensor Node in Aluminum Core PCB Technology", IEEE Sensors Journal, Vol. 15, No.1, pp. 337-345, 2015.


    I. Manić, D. Danković, A. Prijić, Z. Prijić, N. Stojadinović, "Measurement of NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs", Informacije MIDEM, Journal of Microelectronics, Electronics Components and Materials, Vol. 44, No. 4, pp. 280-287, 2014.


    V. Paunović, V. Mitić, Z.  Prijić, Lj. Živković, "Microstructure and dielectric properties of Dy/Mn doped BaTiO3 ceramics", Ceramics International, 2014 40 (3):4277-4284


    D. Danković, Lj. Vračar, A. Prijić, Z. Prijić, „An Electromechanical Approach to a Printed Circuit Board Design Course“, IEEE Trans. Education, Vol. 56, No. 4, pp. 470-477, 2013.


    D. Danković, I. Manić, A. Prijić, V. Davidović, S. Đrorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić, N. Stojadinović, „Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETs“, Informacije MIDEM, Journal of Microelectronics Electronic Components and Materials, Vol. 43, pp. 58-66, 2013.


    A. Prijić, D. Danković, Lj. Vračar, I. Manić, Z. Prijić, N. Stojadinović, „A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistors“, Measurement Science and Technology, Vol. 23, Art. No. 085003, (8pp), 2012.


    Lj. Vračar, A. Prijić, D. Vučković, Z. Prijić, „Capacitive Pressure Sensing Based Key in PCB Technology for Industrial Applications“, IEEE Sensors Journal, Vol. 12, No. 5, pp. 1496-1503, 2012.


    I. Manić, D. Danković, A. Prijić, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić, N. Stojadinović, „NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions”, Microelectronics Reliability, Vol. 51, No. 9, pp. 1540-1543, 2011.


    N. Stojadinovic, D. Danković, I. Manić,  A. Prijić; V. Davidović, S. Đorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić, „Threshold Voltage Instabilities in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed NBT Stress“, Microelectronics Reliability, Vol. 50, No. 9, pp. 1278-1282, 2010.


    A. Prijić, Z. Prijić, B. Pešić, D. Pantić, S. Ristić, D. Mančić, Z. Petrušić, „Design and Optimization of S-Type Thermal Cuttofs“, IEEE Trans. Components and Packaging Technologies, Vol. 31, No. 4, pp. 904-912, 2008.


    А. Rochas, А. Pauchard, P. Besse, D. Pantić, Z. Prijić, R. Popović, „Low-Noise Silicon Avalanche Photodiodes Fabricated in Conventional CMOS Technologies“, IEEE Trans. Electron Devices, Vol. 49, No. 3, pp. 387-394, 2002.


    I. Manić, Z. Pavlović, Z. Prijić, V. Davidović, N. Stojadinović, „Analytical modelling of electrical characteristics in γ-irradiated power VDMOS transistors“, Microelectronics Journal, Vol. 32, pp. 485-490, 2001.


    Z. Pavlović, I. Manić, Z. Prijić, N. Stojadinović, „Temperature Distribution in the Cells of Low-Voltage Power VDMOS Transistor“, Microelectronics Journal, Vol. 30, pp. 109-113, 1999.


    P. Habaš. Z. Prijić, D. Pantić, N. Stojadinović, „Charge Pumping Characterization of SiO2/Si Interface in Virgin and Irradiated Power VDMOSFET's“, IEEE Trans. Electron Devices, Vol. 43, No. 12, pp. 2197-2209, 1996.


    D. Pantić, Z. Prijić, Z. Pavlović, „Process Design and Optimization of the Channel Doping Profile in Power VDMOSFETs“, Microelectronics Journal, Vol. 27, pp. 191-200, 1996.


    Z. Prijić, P. Igić, Z. Pavlović, N. Stojadinovic, „Simple Method for the Extraction of Power VDMOS Transistor Parameters“, Microelectronics Journal, Vol. 27, pp. 567-570, 1996.


    Z. Prijić, D. Pantić, „Educational Software for Power VDMOS Transistors“, Microelectronics Journal, Vol. 27, pp. 131-138, 1996.


    P. Habaš. Z. Prijić, D. Pantić, „The Application of Charge-Pumping Technique to Characterize the Si/SiO2 Interface in Power VDMOSFETs“, Microelectronic Engineering, Vol. 28, pp. 171-174, 1995.


    S. D. Ristić, Z. D. Prijić, S. Ž. Mijalković, „The Effect of Impurity Concentration Dependent Static Dielectric Constant on Band-Gap Narrowing in Heavily Doped Silicon“, Physica Status Solidi (a), Vol. 148, pp. 575-584, 1995.


    S. D. Ristić, Z. D. Prijić, S. V. Živanović, S. Ž. Mijalković, A. P. Trajković, „On the Effective Intrinsic Carrier Concentrations and Diffusivities in Heavily Doped Silicon“, Physica Status Solidi (a), Vol. 152, pp. 499-509, 1995.


    Z. Pavlović, Z. Prijić, S. Ristić, N. Stojadinović, „Temperature Dependence of ON-Resistance in Low-Voltage Power VDMOS Transistors“, Microelectronics Journal, Vol. 24, pp. 115-124, 1993.


    Z. Prijić, Z. Pavlović, S. Ristić, N. Stojadinović, „Zero Temperature Coefficient (ZTC) Biasing of Power VDMOS Transistors“, Electronic Letters, Vol. 29, pp. 435-437, 1993.


    Z. D. Prijić, S. S. Dimitrijev, N. D. Stojadinović, „The Determination of Zero Temperature Coefficient Point in CMOS Transistors“, Microelectronics & Reliability, Vol. 32, pp. 769-773, 1992.


    Z. D. Prijić, S. S. Dimitrijev, N. D. Stojadinović, „Analysis of Temperature Dependence of CMOS Transistors' Threshold Voltage“, Microelectronics & Reliability, Vol. 31, pp. 33-37, 1991.


    S. Mijalković, D. Pantić, Z. Prijić, S. Mitrović, N. Stojadinović, „MUSIC - A Multigird Simulator for IC Fabrication Processes“, COMPEL, Vol. 10, pp. 599-610, 1991.

  • Radovi u ostalim časopisima:

    S. Ristić, Z. Prijić, S. Mijalković, S. Živanović, A. Trajković, „Koeficijenti difuzije nosilaca naelektrisanja u jako dopiranom silicijumu“, Tehnika-Elektrotehnika, Vol. 44, pp. E1-E7, 1995.


    A. Prijić, B. Pešić, Z. Prijić, D. Pantić, Z. Pavlović, „3D Simulation of Electrical and Thermal Characteristics of Electric Contacts“, ELECTRONICS, Vol. 6, pp. 3-5, 2002.


    S. Ristić, A. Prijić, Z. Prijić, „Dependence of Static Dielectric Constant of Silicon on Resistivity at Room Temperature“, Serbian Journal of Electrical Engineering, Vol. 1, No. 2, pp. 237-247, 2004,


    A. Prijić, B. Pešić, Z. Prijić, D. Pantić, Z. Pavlović, „Temperature and Yield Stress Characterization of Electric Contacts by 3D Numerical Simulation“, Serbian Journal of Electrical Engineering, Vol. 2, No. 1, pp. 77-91, 2005.


    D. Danković, I. Manić, V. Davidović, A. Prijić, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić, N. Stojadinović, “Lifetime estimation in NBT-stressed p-channel power VDMOSFETs”, Facta Universitatis, Series: Automatic control and Robotics, vol. 11, no. 1 pp. 15-23, 2012.


    M. Marjanović, D. Dimitrijević, V. Paunović, Z. Prijić, "Microstructural and Dielectrical Characterization of Ho Doped BaTiO3 Ceramics", Serbian Journal of Electrical Engineering, Vol. 11, No. 1, pp. 35-46, 2014.

    M. Marjanović, D. Danković, A. Prijić, Z. Prijić, N. Janković, V. Davidović, "Modeling and PSPICE Simulation of NBTI Effects in VDMOS Transistors", Serbian Journal of Electrical Engineering, Vol. 12, No. 1, pp. 69-79, 2015.

    A. Prijić, Lj. Vračar, D. Vučković, D. Danković, Z. Prijić, "Practical Aspects of M2M Cellular Systems Design", Facta Universitatis, Series: Electronics and Energetics, vol. 28, no. 4 pp. 551-556, 2015. (invited paper)

    I. Manić, D. Danković, V. Davidović, A. Prijić, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić, N. Stojadinović, "Effects Of Pulsed Negative Bias Temperature Stressing In P-Channel Power VDMOSFETs", Facta Universitatis, Series: Electronics and Energetics, vol. 29, no. 1 pp. 49-60, 2015. (invited paper)

    M. Marjanović, D. Danković, V. Davidović, A. Prijić, N. Stojadinović, Z. Prijić, N. Janković, „Modeling and PSPICE simulation of radiation stress influence on threshold voltage shifts in p-channel power VDMOS transistors“, Radiation and Applications in Physics, Chemistry, Biology, Medical Sciences, Engineering and Environmental Sciences, Vol. 1, Issue 1, pp. 26–30, 2016.


    D. Milić, A. Prijić, Lj. Vračar, Z. Prijić, “The influence of ambient conditions on the performance of the thermoelectric wireless sensor node”, Facta Universitatis, Series: Working and Living Environmental Protection, Vol. 15, pp. 89-100, 2018.


    V. Paunović, Z. Prijić, M. Đorđević, V. Mitić, "Enhanced Dielectric Properties in La Modified Barium Titanate Ceremics, Facta Universitatis, Series: Electronics and Energetics, Vol. 32, pp.  179-193, 2019.


  • Radovi na naučnim skupovima međunarodnog značaja:

    Z. Pavlović, Z. Prijić, T. Jovanović, S. Ristić, N. Stojadinović, „Temperature Dependence of ON-Resistance in Power VDMOS Transistors“, Proc. 2nd Serbian Conference on Microelectronics and Optoelectronics (MIOPEL'93), pp. 87-92, Niš, SR Yugoslavia, 1993.


    Z. Pavlović, Z. Prijić, D. Pantić, T. Trajković, P. Igić, „Process Design and Optimization of the Channel Doping Profile in Power VDMOSFET's“, Proc. 2nd International Seminar on Power Semiconductors (ISPS'94), pp. 121-126, Prague, Czech Republic, 1994.


    A. Trajković, S. Ristić, Z. Prijić, „Modeling of Minority-Carrier Transport at Silicon Graded nn+ Junctions, Part II: Case Study“, Proc. 18th Annual Semiconductor Conference (CAS'95), pp. 583-586, Sinaia, Romania, 1995, IEEE Cat. No. 95TH8071.


    P. Habaš, Z. Prijić, D. Pantić, „The Application of Charge Pumping Technique to Characterize the Si-SiO2 Interface in Power VDMOSFETs“, Proc. 9th Conference on Insulating Films on Semiconductors (INFOS'95), pp. 171-174, Grenoble, France, 1995.


    S. Živanović, S. Ristić, Z. Prijić, „The Effect of Static Dielectric Constant on the Band Structure in Heavily Doped Silicon“, Proc. 20th International Conference on Microelectronics (MIEL'95), pp. 141-144, Niš, SR Yugoslavia, 1995, IEEE Cat. No. 95TH8108.


    S. Ristić, A. Trajković, Z. Prijić, „A New Approach to the Modeling of Minority-Carrier Transport in Silicon p+nn+ Diode“, Proc. 20th International Conference on Microelectronics (MIEL'95), pp. 669-674, Niš, SR Yugoslavia, 1995, IEEE Cat. No. 95TH8108.


    B. Pešić, N. Tošić, Z. Prijić, Z. Pavlović, N. Stojadinović, „Reliability of Power VDMOS Transistors“, Proc. 6th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Phailyre Physisc and Analysis (ESREF'95), pp. 111-116, Bordeaux-Arcachon, France, 1995, IEEE Cat. No. 95TH8071.


    Z. Prijić, S. Ristić, A. Trajković, „Modeling of Minority-Carrier Transport at Silicon Graded nn+ Junctions, Part I: Theory“, Proc. 18th Annual Semiconductor Conference (CAS'95), pp. 579-582, Sinaia, Romania, 1995.


    Z. Pavlović, I. Manić, T. Jovanović, Z. Prijić, „Temperature Dependence of High-Voltage VDMOS Power Transistor Transconductance“, Proc. Electronica '96, pp. 267-272, Botevgrad, Bulgaria, 1996.


    A. Trajković, Z. Prijić, S. Ristić, „Modelling of the Body-Drain Diode in Power VDMOS Transistors“, Proc. 3rd International Seminar on Power Semiconductors (ISPS'96), pp. 129-136, Prague, Czech Republic, 1996.


    Z. Prijić, D. Pantić, N. Stojadinović, „Educative Aspects of Power VDMOS Transistors Simulation“, Proc. 3rd International Seminar on Power Semiconductors (ISPS'96), pp. 187-192, Prague, Czech Republic, 1996.


    Z. Pavlović, I. Manić, Z. Prijić, „Temperature Distribution in VDMOS Power Transistor Cells“, Proc. 21st International Conference on Microelectronics (MIEL'97), pp. 403-406, Niš, SR Yugoslavia, 1997, IEEE Cat. No. 97TH8232.


    A. Trajković, S. Ristić, Z. Prijić, S. Mijalković, „Einstein Relation and Transport Equations in Heavily Doped Silicon“, Proc. 21st International Conference on Microelectronics (MIEL'97), pp. 177-180, Niš, SR Yugoslavia, 1997, IEEE Cat. No. 97TH8232.


    Z. Pavlović, I. Manić, Z. Prijić, N. Stojadinović, „Temperature Dependence of ON-Resistance in High-Voltage Power VDMOS Transistors“, Proc. 4th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS’98), pp. 227-232, Prague, Czech Republic, 1998.


    Z. Pavlović, I. Manić, Z. Prijić, N. Stojadinović, „Influence of Channel Dopant Concentration and Temperature on Low-Voltage VDMOS Transistor ON-Resistance“, Proc. 21st Annual Semiconductor Conference (CAS’98), pp. 153-156, Sinaia, Romania, 1998, IEEE Cat. No. 98TH8351.


    V.Stojić, S. Vidanović, Z. Prijić, N. Stojadinović, „Object-Oriented Approach to the Technology Processes Simulation of Devices and ICs Used in Telecom Applications“, Proc. 4th International Conference on Telecomunications in Modern Satelite, Cable and Broadcasting Serives (TELSIKS'99), pp. 510-513, Niš, SR Yugoslavia, 1999, IEEE Cat. No. 99EX365.


    S. Ristić, I. Manić, Z. Prijić, A. Prijić, „General Analytical Solution to the Minority Carrier Density in Low-High Junctions“, Proc. 22nd International Conference on Microelectronics (MIEL2000), pp. 169-172, Niš, SR Yugoslavia, 2000.


    I. Manić, Z. Pavlović, Z. Prijić, V. Davidović, N. Stojadinović, „Influence of γ-Irradiation on Electrical Characteristics of Power VDMOS Transistors“, Proc. 5th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS'2000), pp. 203-208, Prague, Czech Republic, 2000.


    S. Ristić, A. Prijić, Z. Prijić, T. Takov, „The effect of low-high junction on carrier velocities in silicon“, Proc. 10th International Scientific and Applied Science Conference (ELECTRONICS ET2001), pp. 131-138, Sozopol, Bulgaria, 2001.


    S. Ristić, A. Prijić, Z. Prijić, T. Takov, „Transport equations with effective carrier concentrations“, Proc. 10th International Scientific and Applied Science Conference (ELECTRONICS ET2001), pp. 131-138, Sozopol, Bulgaria, 2001.


    A. Prijić, B. Pešić, Z. Prijić, D. Pantić, Z. Pavlović, „3D simulacija električnih i termičkih karakteristika električnih kontakata“, Zbornik radova IV simpozijuma o industrijskoj elektronici INDEL 2002, pp. 25-27, Banja Luka, Republika Srpska, 2002.


    A. Prijić, B. Pešić, Z. Prijić, D. Pantić, Z. Pavlović, „3D Simulation of Electric Contacts – Temperatures and Yield Stress Distributions“, Proc. of 7th International Symposium on Microelectronics Technologies and Microsystems - MTM`03, pp. 57-62, Sofia-Sozopol, Bulgaria, 2003.


    A. Prijić, Z. Prijić, B. Pešić, „A New Method of Evaluation of Liquidus Temperatures of Ternary Alloys“, Proc. 25th International Conference on Microelectronics (MIEL2006), IEEE, pp. 395-399, Belgrade, Serbia and Montenegro, May, 2006, ISBN: 1-4244-0116-X.


    A. Prijić, Z. Prijić, B. Pešić, D. Pantić, S. Ristić, „Analysis of Electrical and Thermal Characteristics of Thermal Cutoffs“, Proc. of XLII International Scientific Conference on Information, Communication and Energy Systems and Technologies -- ICEST 2007, Faculty of Technical Sciences, Bitola, Macedonia, pp. 827-830, Ohrid, Macedonia, June, 2007, ISBN: 9989-786-06-2.


    A. Prijić, Z. Prijić, D. Vučković, A. Stanimirović „AADL modeling of M2M terminal“, Proc. 27th International Conference on Microelectronics , IEEE,  pp. 373 – 376, Niš, Serbia, May, 2010, ISBN 1-4244-7198-0.


    S. Đorić-Veljković, D. Danković, A. Prijić, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, Z. Prijić, N. Stojadinović, „Degradation of p-channel Power VDMOSFETs under Pulsed NBT Stress“, Proc. 27th International Conference on Microelectronics , IEEE,  pp. 443 – 446, Niš, Serbia, May, 2010, ISBN 1-4244-7198-0.


    N. Stojadinović, D. Danković, I. Manić, A. Prijić, V. Davidović, S. Đorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić, „Threhsold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress“, Proc. 21st European Symposium on Reliability of Electron Devices, Phailure Physics and Analysis – ESREF 2010, pp. 1278-1282, Monte Cassino Abbey and Gatea, Italy, October, 2010.


    I. Manić, D. Danković, A. Prijić, V. Davidović, S. Djorić-Veljković, S. Golubović, Z. Prijić and N. Stojadinović, “NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static under the static and pulsed NBT stress conditions”, Proc. 22nd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2011), Bordeaux (France), October 2011, pp. 1540-1543.


    D. Danković, A. Prijić, I. Manić, Z. Prijić and N. Stojadinović, “Measurements of Negative Bias Temperature Instability (NBTI) in p-channel Power VDMOSFETs”, Proc. 11th International Seminar on Power Semiconductors (ISPS 2012), Prague (Czech Republic), August 2012, 240-245.


    Z. Prijić, D. Danković, A. Prijić, I. Manić, N. Stojadinović, “ A Method for Measuring NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs ”, Proc. 50th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials (MIDEM 2014), Ljubljana (Slovenia), October 2014, pp. 9-16. (invited paper)


    D. Danković, N. Stojadinović, Z. Prijić, I. Manić and A. Prijić, “Recoverable and Permanent Components of VT Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETs”, Proc. 29th International Conference on Microelectronics (MIEL 2014), Belgrade (Serbia), May 2014, pp. 297-300.


    M. Marjanović, V. Paunović, Z. Prijić, A. Prijić and D. Danković, “On the Measurement Methods for Dielectric Constant Determination in Nb/BaTiO3 Ceramics”, Proc. X International Symposium Industrial Eelectronics (INDEL 2014), Banja Luka (Republika Srpska, Bosnia and Herzegovina), 6-8 November 2014.


    M. Marjanović, D. Danković, A. Prijić, V. Paunović, Z. Prijić, "High Frequency Characterization and Modelling of Ceramic Capacitors", 12th International Conference on Telecommunications in Modern Satellite, Cable and Broadcasting Services »TELSIKS 2015«, Nis, Serbia, October, 14-17, 2015, pp. 110-113.


    M. Marjanović, V. Paunović, D. Danković, A. Prijić, Z. Prijić, "Characterization and SPICE Modeling of Ceramic-Core Inductors at High Frequencies", The 4 th Serbian Ceramic Society Conference »Advanced Ceramics and Application«, Belgrade, Serbia, September, 21-23, 2015.


    M. Marjanović, D. Danković, V. Davidović, A. Prijić, N. Stojadinović, Z. Prijić, N. Janković, "Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in p-Channel Power VDMOS Transistors", Third International Conference on Radiation and Applications in Various Fields of Research - RAD 2015, Budva, Montenegro, June 8-12, 2015. ISBN: 978-86-80300-01-6


    M. Marjanović, A. Prijić, D. Danković, Z. Prijić, V. Davidović, „PSPICE modeling of ionizing radiation effects in p-channel power VDMOS transistors“, Proc. 3rd International Conference on Electrical, Electronic and Computing Engineering IcETRAN 2016, Zlatibor, Serbia, June 13–16, 2016, pp. MOI1.3:1–MOI1.3:6


    M. Marjanović, V. Paunović, D. Danković, A. Prijić, Z. Prijić, V. Mitić, „Characterization and SPICE Modeling of Passive Electronic Devices at High frequencies“, Proc. IV Advanced Ceramics and Applications Conference, Springer, Atlantis press, pp. 435 - 446, doi: 10.2991/978-94-6239-231-7_30, ISBN: 978-94-6239-213-7, 2017.


    V. Paunović, V. Mitić, M. Đorđević, Z. Prijić, „Electrical Properties of Rare Earth Doped BaTiO3 Ceramics“, Proc. 30th International Conference on Microelectronics (MIEL 2017), IEEE, pp. 183 - 186, ISBN: 978-1-5386-2561-3, Niš, Serbia, 9. - 11. Oct, 2017.


    D. Danković, I. Manić, N. Stojadinović, Z. Prijić, S. Đorić-Veljković, V. Davidović, A. Prijić, A. Paskaleva, D. Spassov, S. Golubović, „Modelling of Threshold Voltage Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETs“, Proc. 30th International Conference on Microelectronics (MIEL 2017), IEEE, pp. 147 - 151, ISBN: 978-1-5386-2561-3, Niš, Serbia, 9. - 11. Oct, 2017.


    A. Prijić, M. Marjanović, Lj. Vračar, D. Danković, D. Milić, Z. Prijić, „A Steady-State SPICE Modeling of the Thermoelectric Wireless Sensor Network Node“, Proc. 4th International Conference on Electrical, Electronic and Computing Engineering – IcETRAN, pp. MOI2.3.1 - MOI2.3.6, ISBN: 978-86-7466-692-0, Kladovo, Serbia, 5. - 8. Jun, 2017.


    M. Đorđević, M. Marjanović, V. Paunović, V. Mitić, Z. Prijić, „Electrical Resistivity of Er/Yb doped BaTiO3“, Proc. 4th International Conference on Electrical, Electronics and Computing Engineering, IcETRAN, pp. NMI1.2.1 - NMI1.2.6, ISBN: 978-86-7466-692-0, Kladovo, Srbija, 5. - 8. Jun, 2017.


    Z. Prijić, Lj. Vračar, A. Prijić, „Design and Characterization of Thermoelectric Energy Harvesting Systems for Wireless Sensor Network Nodes“, Proc. 5th International Conference on Electrical, Electronic and Computing Engineering, IcETRAN 2018, Palić, Serbia, June 11 – 14, 2018., pp. 930–936, ISBN 978-86-7466-752-1 (invited paper)

  • Radovi na domaćim naučnim skupovima:

    Д. Пантић, С. Мијалковић, З. Пријић, „Centering of CMOS Technology Process Parameters“, Зборник радова XVI југословенског симпозијума о микроелектроници (МИЕЛ'88), стр. 591-598, Загреб, СФР Југославија, Мај, 1988.


    З. Пријић, Т. Јовановић, „Моделирање температурног коефицијента напона прага CMOS транзистора са полисилицијумским гејтом“, Зборник радова XXV симпозијума о саставним деловима и материјалима (СД'89), стр. 75-79, Марибор, СФР Југославија, Септембар, 1989.


    З. Пријић, „Утицај високих температура на рад транзистора у CMOS интегрисаним колима“, Зборник радова XXXI конференције ЕТАН у поморству, стр. 119-124, Задар, 1989.


    Z. Prijić, T. Jovanović, S. Dimitrijev, N. Stojadinović, „Analysis of Transconductance Temperature Dependence in CMOS Transistors“, Proc. 18th Yugoslav Conference on Microelectronics (MIEL'90), pp. 161-165, Ljubljana, SFR Jugoslavija, May, 1990.


    S. Mijalković, D. Pantić, Z. Prijić, S. Mitrović, N. Stojadinović, „2-D IC Fabrication Processes Simulator Based on a Multigrid Method“, Proc. 19th Yugoslav Conference on Microelectronics (MIEL'91), pp. 529-534, Beograd, SFR Jugoslavija, May, 1991.


    S. Mijalković, D. Pantić, Z. Prijić, S. Mitrović, N. Stojadinović, „MUSIC - Multigird Simulator for IC Fabrication Processes: Application,“ Proc. 19th Yugoslav Conference on Microelectronics (MIEL'91), pp. 535-540, Beograd, SFR Jugoslavija, May, 1991.


    З. Пријић, З. Павловић, С. Ристић, Н. Стојадиновић, „О постојању тачке нултог температурног коефицијента код VDMOS транзистора снаге“, Зборник радова XXXVI конференције ЕТАН, XII свеска, стр. 77-84, Копаоник, СР Југославија, Октобар, 1992.


    З. Павловић, З. Пријић, С. Ристић, Н. Стојадиновић, „Расподела температуре у области канала VDMOS транзистора снаге“, Зборник радова прве српске конференције о микроелектроници и оптоелектроници, Београд, СР Југославија, Октобар, 1992.


    С. Ристић, З. Пријић, „Модификоване транспортне једначине у јако допираном полупроводнику“, Зборник радова XXXVII конференције ЕТАН, IX свеска, стр. 139-144, Београд, СР Југославија, Јун, 1993.


    П. Игић, З. Пријић, Н. Стојадиновић, „Екстракција параметара VDMOS транзистора снаге методом линеарне оптимизације - I: Триодна област“, Зборник радова XXXVIII конференције ЕТАН, IV свеска, стр. 57-58, Ниш, СР Југославија, Јун, 1994.


    З. Пријић, С. Ристић, „Статичка диелектрична константа јако допираног силицијума на собној температури“, Зборник радова XXXVIII конференције ЕТАН, IV свеска, стр. 9-10, Ниш, СР Југославија, Јун, 1994.


    П. Игић, З. Пријић, „Одређивање густине центара захвата на међуповршини Si-SiO2 код VDMOS транзистора снаге“, Зборник радова XXXIX конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 132-135, Златибор, СР Југославија, Јун, 1995.


    З. Пријић, А. Трајковић, С. Ристић, „Анализа транспорта мањинских носилаца наелектрисања у p+nn+ диоди“, Зборник радова XXXIX конференције ЕТАН, IV свеска, стр. 49-52, Златибор, СР Југославија, Јун, 1995.


    С. Ристић, З. Пријић, А. Трајковић, „Моделирање транспортних процеса у јако допираном силицијуму“, Зборник радова XL конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 45-48, Будва, СР Југославија, Јун, 1996.


    С. Ристић, А. Трајковић, З. Пријић, „Везе између различитих модела сужења забрањене зоне у јако допираним полупроводницима“, Зборник радова XLI конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 37-39, Златибор, СР Југославија, Јун, 1997. (Р65=0,5)


    А. Трајковић, З. Пријић, З. Павловић, С. Ристић, „Ефективна брзина рекомбинације у p-i-n диоди“, Зборник радова XLI конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 87-90, Златибор, СР Југославија, Јун, 1997.


    В. Стојић, З. Пријић, „Објектно оријентисани приступ симулацији технолошких процеса у микроелектроници“, Зборник радова XLII конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 76-79, Врњачка Бања, СР Југославија, Јун, 1998.


    З. Павловић, И. Манић, З. Пријић, Н. Стојадиновић, „Зависност отпорности укључења нисконапонских VDMOS транзистора снаге од концентрације примеса у каналу и температуре“, Зборник радова XLII конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 60-63, Врњачка Бања, СР Југославија, Јун, 1998.


    A. Rochas, E. Schurig, Z. Prijić, D. Pantić, „0.8 Micrometer CMOS Technology in Sensor Applications“, Зборник радова XLV конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 240-243, Буковичка Бања - Аранђеловац, СР Југославија, Јун, 2001, рад по позиву.


    З. Павловић, М. Одаловић, Т. Премовић, И. Манић, З. Пријић, Н. Стојадиновић, „Утицај густине наелектрисања у оксиду канала на транскондуктансу VDMOS транзистора снаге“, Зборник радова XLIII конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 142-145, Златибор, СР Југославија, Јун, 1999.


    И. Манић, В. Давидовић, З. Пријић, Н. Стојадиновић, З. Павловић, „Утицај γ-зрачења на електричне карактеристике VDMOS транзистора“, Зборник радова XLIV конференције ЕТРАН, IV свеска, пп. 201-204, Соко Бања, СР Југославија, Јун, 2000.


    Д. Живановић, М. Арсић, З. Пријић, „Мерно-контролни систем пећи за импрегнацију и сушење вучних мотора железничких возила“, Зборник радова конференције ЈУЖЕЛ 2000, стр. 259-262, Врњачка Бања, СР Југославија, Октобар, 2000.


    А. Пријић, С. Ристић, З. Пријић, „Транспортне једначине са ефективним концентрацијама носилаца наелектрисања“, Зборник радова XLV конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 152-154, Буковичка Бања - Аранђеловац, СР Југославија, Јун, 2001.


    С. Ристић, З. Пријић, А. Пријић, „Утицај l-h прелаза на брзине носилаца наелектрисања“, Зборник радова XLV конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 155-158, Буковичка Бања - Аранђеловац, СР Југославија, Јун, 2001.


    Љ. Врачар, Б. Пешић, З. Пријић, „Нови приступ у анализи високофреквентних C-V кривих MOS структура“, Зборник радова XLVI конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 149-151, Бања Врућица, Република Српска, Јун, 2002.


    А. Пријић, Б. Пешић, З. Пријић, Д. Пантић, „З. Павловић, 3D симулација механичких, електричних и термичких карактеристика електричних контаката“, Зборник радова XLVII конференције ЕТРАН, IV свеска, стр. 229-232, Игало, Србија и Црна Гора, Јун, 2003.


    Zoran Pavlović, D. Bradić, A. Prijić, Z. Prijić, S. Ristić, „Poboljšani analitički model strujno-naponskih karakteristika bipolarnih tranzistora snage sa izolovanim gejtom“, Zbornik radova V simpozijuma o industrijskoj elektronici INDEL 2004, Elektrotehnički fakultet Banja Luka, str. 10-13, Banja Luka, Republika Srpska, Novembar, 2004.


    Z. Prijić, B. Bukumira, A. Prijić, S. Ristić, „Automatic data acqusition system for measurement of vacuum electronic tubes“, Zbornik radova XLVIII konferencije ETRAN, IV sveska, Društvo ETRAN-a, pp. 105-108, Čačak, Srbija i Crna Gora, Jun, 2004, ISBN: 86-80509-52-3.


    A. Prijić, B. Pešić, Z. Prijić, „Analiza ekvivalentnog naprezanja u električnim kontaktima - uticaj dimenzija i geometrije kontakata“, Zbornik radova XLVIII konferencije ETRAN, IV sveska, Društvo ETRAN-a, str. 93-96, Čačak, Srbija i Crna Gora, Jun, 2004, ISBN: 86-80509-52-3.


    D. Barać, A. Prijić, Z. Prijić, D. Petković, „Modifikacija naponske jedinice fiskalne registar kase“, Zbornik radova XLIX konferencije ETRAN, IV sveska, Društvo ETRAN-a, str. 152-155, Budva, Srbija i Crna Gora, Jun, 2005, ISBN: 86-80509-56-6.


    A. Prijić, B. Pešić, Z. Prijić, D. Pantić, S. Ristić, „Analiza karakteristika termičkih prekidača 3-D numeričkom simulacijom“, Zbornik radova VI simpozijuma o industrijskoj elektronici INDEL 2006, Elektrotehnički fakultet Banja Luka, str. 48-52, Banja Luka, Republika Srpska, Novembar, 2006.


    A. Prijić, B. Pešić, Z. Prijić, „Karakterizacija niskotopivih legura za primenu u termičkim prekidačima“, Zbornik radova L konferencije ETRAN, IV sveska, Društvo ETRAN-a, str. 119-122, Beograd, Srbija i Crna Gora, Jun, 2006, ISBN: 86-80509-61-2.


    A. Prijić, D. Mančić, Z. Petrušić, B. Pešić, D. Pantić, Z. Prijić, "Analiza elektro-termičkih karakteristika termičkih prekidača", Elektronski zbornik radova LI konferencije ETRAN, Društvo ETRAN-a, Herceg Novi – Igalo,  str. MO2.1-1 – MO2.1-4, jun 2007, ISBN: 978-86-80509-62-4.


    Z. Petrušić, A. Prijić, D. Mančić, D. Pantić, Z. Prijić, B. Pešić, „Verifikacija karakteristika termoprekidača primenom termovizijskog mernog metoda“, Elektronski zbornik radova LI konferencije ETRAN, Društvo ETRAN-a, Herceg Novi – Igalo, str. MO2.2-1 – MO2.2-4, jun 2007, ISBN: 978-86-80509-62-4.


    Z. Prijić, A. Prijić, „Senzori struje i pritiska u M2M sistemu“, Zbornik radova 52. konferencije ETRAN, pp. MO2.3-1 – MO2.3-4, Palić, Srbija, Jun, 2008, ISBN 978-86-80509-63-1.


    Z. Prijić, A. Prijić, „Koncept M2M sistema za primene u industriji“, Zbornik radova VII Simpozijuma INDUSTRIJSKA ELEKTRONIKA - INDEL2008, pp. 44 – 47, Banja Luka, Republika Srpska, Novembar, 2008, ISBN 978-99955-46-01-4.


    Lj. Vračar, Z. Prijić, A. Prijić, D. Vučković, „Induktivni senzori dodira u PCB tehnologiji“, Zbornik radova VIII Simpozijuma Industrijska elektronika INDEL, pp. 37-40, Banja Luka, Republika Srpska, Novembar, 2010, ISBN 978-99955-46-03-8.


    D. Danković, V. Sinadinović, D. Milošević, Z. Prijić, „Realizacija intelignentnog semafora na bazi NanoBoard-a 3000“, Zbornik radova VIII Simpozijuma Industrijska elektronika INDEL, pp. 120-124, Banja Luka, Republika Srpska, Novembar, 2010, ISBN 978-99955-46-03-8.


    D. Vučković, Lj. Vračar, Z. Prijić, „Mikrokontrolerski sistem za održavanje temperature baziran na Peltier-ovom elementu“, Zbornik radova 54. konferencije ETRAN, Donji Milanovac, Srbija, Jun, 2010.


    Z. Prijić, A. Prijić, D. Vučković, N. Jordanov, „Praktična implementacija M2M sistema“, Zbornik radova 54. konferencije ETRAN, pp. MO2.1-1 – MO2.1-4, Donji Milanovac, Srbija, Jun, 2010.


    D. Danković, A. Prijić, I. Manić, V. Davidović, S. Golubović, Z. Prijić, N. Stojadinović, S. Djorić-Veljković, “Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjima”, Zbornik radova 56. konferencije za ETRAN, Zlatibor, 11-14 Jun 2012, str. MO1.1-1-4.


    D. Milić, A. Prijić, Lj. Vračar, Z. Prijić, “Karakterizacija komercijalnih termoelektričnih generatora za primene u samonapajajućim senzorskim sistemima”, Zbornik radova 57. konferencije za ETRAN, Zlatibor, 03-06 Jun 2013, str. MO1.4.1-6.


    M. Marjanović, D. Dimitrijević, V. Paunović, Z. Prijić, “Mikrostrukturna i električna svojstva Ho dopirane BaTiO3 keramike”, Zbornik radova 57. konferencije za ETRAN, Zlatibor, 03-06 Jun 2013, str. MO1.3.1-6.


    D. Danković, A. Prijić, I. Manić, Z. Prijić, N. Stojadinović “Naponsko temperaturna naprezanja p—kanalnih VDMOS tranzistora snage”, Zbornik radova 57. konferencije za ETRAN, Zlatibor, 03-06 Jun 2013, str. MO1.1.1-6.


    A.Ilić, Z. Prijić, A. Prijić, V. Davidović, D. Danković, N. Stojadinović, “Mobilna eksperimentalna postavka za određivanje napona praga VDMOS tranzistora snage”, Zbornik radova 58. konferencije za ETRAN, Vrnjačka Banja, 2-5 Jun 2014, str. MO1.2.1-4.


    M. Marjanović, D. Danković, A. Prijić, Z. Prijić, V. Davidović, N. Janković, “ Modeliranje i PSPICE simulacija NBTI efekata kod VDMOS tranzistora, Zbornik radova 58. konferencije za ETRAN, Vrnjačka Banja, 2-5 Jun 2014, str. MO1.1.1-5.


    M. Djordjević, M. Marjanović, V. Paunović, V. Mitić, Z. Prijić, „Električne karakteristike i fazna transformacija Yb dopirane BaTiO3 keramike“, Zbornik 59. konferencije ETRAN, Srebrno jezero, 8-11 jun 2015, str. NM1.1.


    M. Đorđević, M. Marjanović, V. Paunović, V. Mitić, Z. Prijić, „Specifična električna otpornost Er dopirane BaTiO3 keramike“, Zbornik radova 60. konferencije za elektroniku, telekomunikacije, racunarstvo, automatiku i nuklearnu tehniku ETRAN 2016, Zlatibor, Srbija, 13–16. jun 2016, pp. NM1.1:1-NM1.1:5, ISBN: 978-86-7466-618-0.


    M. Marjanović, V. Paunović, A. Prijić, D. Danković, Z. Prijić, „Analiza debljine silicijum dioksida pomoću TCAD simulatora“, Zbornik radova 61. konferencije ETRAN, pp. NM1.3.1 - NM1.3.5, ISBN: 978-86-7466-692-0, Kladovo, Srbija, 5. - 8. Jun, 2017.

  • Patenti:

    „Termoelektrični samonapajajući uređaj baziran na tehnologiji metalnih štampanih ploča“, Patent br. 55393, Republika Srbija, Zavod za intelektualnu svojinu, Rešenje 990 br. 2017/2798-P-2014/064 od 16.03.2017. godine. Nosilac patenta: Univerzitet u Nišu, Elektronski fakultet u Nišu. Pronalazači: Lj. Vračar, Z. Prijić, A. Prijić, Registrovan patent na nacionalnom nivou.


    „Taster realizovan u tehnologiji štampanih ploča“, Patent br. 52974, Republika Srbija, Zavod za intelektualnu svojinu, Rešenje 990 br. 2013/8572-P-2010/0571 od 29.11.2013. godine. Nosilac patenta: Univerzitet u Nišu, Elektronski fakultet u Nišu. Pronalazači: Lj. Vračar, D. Vučković, A. Prijić, Z. Prijić, Registrovan patent na nacionalnom nivou.


    „Kapacitivni senzor pritiska sa višeslojnim dielektrikom“, Patent br. 52973, Republika Srbija, Zavod za intelektualnu svojinu, Rešenje 990 br. 2013/8571-P-2010/0569 od 29.11.2013. godine. Nosilac patenta: Univerzitet u Nišu, Elektronski fakultet u Nišu. Pronalazači: Lj. Vračar, D. Vučković, A. Prijić, Z. Prijić, Registrovan patent na nacionalnom nivou.


    „Tastatura od programabilnih tastera izrađenih u tehnologiji štampanih ploča i postupak dodeljivanja identifikacione oznake tasterima“, Patent br. 52967, Republika Srbija, Zavod za intelektualnu svojinu, Rešenje 990 br. 2013/8533-P-2010/0570 od 28.11.2013. godine. Nosilac patenta: Univerzitet u Nišu, Elektronski fakultet u Nišu. Pronalazači: Lj. Vračar, D. Vučković, A. Prijić, Z. Prijić, Registrovan patent na nacionalnom nivou.


    "A new method for construction of robust switching devices based on the printed circuit board technology", Patent No. WO2012091594 A2, Appplicant: University Of Nis, Faculty Of Electrical Engineering Nis, Inventors: Lj. Vračar, D. Vučković, A. Prijić, Z. Prijić,  2012., Objavljen patent na međunarodnom nivou.


     

  • Tehnička rešenja:

    D. Danković, A. Prijić, I. Manić, Lj. Vračar, Z. Prijić, N. Stojadinović, „Nova metoda za ispitivanje nestabilnosti usled naponsko temperaturnih naprezanja VDMOS tranzistora snage“, nova metoda, 2012.


    Lj. Vračar, A. Prijić, D. Vučković, Z. Prijić, „Taster za industrijske primene izrađen u tehnologiji štampanih ploča“, industrijski prototip, 2011.


    Z. Prijić, A. Prijić, „Komandno-nadzorni centar M2M sistema“, softver, 2010.


    Z.  Prijić, A. Prijić, D. Pantić, S. Ristić, N. Janković, Lj. Vračar, „Industrijski prototip M2M terminala za upravljanje industrijskim procesima“, industrijski prototip, 2009.


    Z. Prijić, A. Prijić, „Ugrađeni softver mikrokontrolera“, softver, 2009.


    Z. Prijić, A. Prijić, D. Pantić, S. Ristić, N. Janković, Lj. Vračar, „Prototip štampane ploče GCM-01“, prototip, 2008.


    Z. Prijić, A. Prijić, D. Pantić, S. Ristić, N. Janković, Lj. Vračar, „Prototip štampane ploče GCM-02“, prototip,  2008.


    Z. Prijić, A. Prijić, B. Pešić, D. Pantić, S. Ristić, N. Tojagić, „Tehnološka linija za proizvodnju termičkih prekidača u skladu sa ekološkim standardima“, nova tehnologija uvedena u proizvodnju, 2006.


    Z. Prijić, A. Prijić, B. Pešić, D. Pantić, S. Ristić, N. Tojagić, „Tehnološki postupak dobijanja lemnih listova legure Pb/Sn/Bi i Bi/Sn“, poboljšani tehnološki postupak, 2005.


    Z. Prijić, A. Prijić, B. Pešić, D. Pantić, S. Ristić, N. Tojagić, „Definisanje i razvoj alata za izradu sastavnih delova termičkih prekidača“, poboljšani tehnološki postupak, 2005.


    Z. Prijić, B. Pešić, A. Prijić, D. Pantić, Z. Pavlović, N. Tojagić, „Bimetalni električni kontakti zakovičastog oblika“, novi proizvod, 2003.

Poslednji put izmenjeno petak, 31 maj 2019 20:48